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证券日报网讯 5月8日,凯格精机在互动平台回答投资者提问时表示,公司面向第三代半导体领域储备了SIC晶圆老化测试设备及SIC KGD芯片分选设备,SIC KGD测试分选设备可实现高精度,高稳定性的功率器件芯片的动静态&高低温功能自动化测试,SIC晶圆老化设备可实现高稳定性的芯片老化测试,为后段封装提供合格的芯片。主要应用于新能源汽车、新能源发电等领域。
(文章来源:证券日报)
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